雷達物位計ZNTEKFX63雷達物位計ZNTEKFX63雷達物位計ZNTEKFX63

產(chǎn)品特點
1.對于蒸汽不敏感
  即使在煙霧、噪音、蒸汽很強烈的情況下，測量精度也不受到影響。
2.不受介質(zhì)特性變化的影響
  被測介質(zhì)的密度變化或介電常數(shù)的變化不會影響測量精度。
3.粘附：沒有問題
  在測量探頭或容器壁上粘附介質(zhì)不會影響測量結(jié)果。
4.容器內(nèi)安裝物
  如果采用同軸套管式的ZNTEKFX，測量*不受容器內(nèi)安裝物的影響，比如：加熱管或支撐物等。不需要特殊調(diào)試。
5.可以提供不同形式的ZNTEKFX用于不同應用：'
  ●纜式一用于測量液體介質(zhì)或固體介質(zhì)，量程可達60米
  ●棒式一用于測量液體介質(zhì)或固體介質(zhì)，量程可達6米
  ●同軸套管一用于測量低黏度的液體介質(zhì)，不受過程條件的影響，量程可達6米

工作原理
      雷達物位計/雷達液位計/雷達料位計/智能導波雷達物位計/智能型脈沖雷達物位計發(fā)出的高頻微波脈沖沿著探測組件（鋼纜或鋼棒）傳播，遇到被測介質(zhì)，由于介電常數(shù)突變，引起反射，一部分脈沖能量被反射回來。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間間隔與被測介質(zhì)的距離成正比,容器中存在兩種不同介質(zhì)，當上面一層的介質(zhì)介電常數(shù)較小，而下面的介質(zhì)介電常數(shù)較大時，高頻微脈沖沿著探測組件傳播遇到上層介質(zhì)時，由于其介電常數(shù)較小，因而有極少的能量被這一層介面反射，而大部分能量穿透上層介質(zhì)繼續(xù)向下傳播，遇到兩層的介面時，由于下層介質(zhì)的介電常數(shù)較大，因而會有較大的能量被反射回來。因而導波雷達物位計是可以測量兩種不同介質(zhì)的介面，其測量條件是上層介質(zhì)不導電或其介電常數(shù)比下層介質(zhì)介電常數(shù)小10以上。

ZNTEKFX63
特   征：抗凝結(jié)，抗蒸汽。
應   用：適用于帶揮發(fā)性物質(zhì)或蒸汽的環(huán)境下的液體測量（如：焦化行業(yè)）；適應過程條件復雜的環(huán)境.
***量程：30M
測量精度：±10mm
過程連接：G1½A/G2A/1½NPT
探測組件材料：不銹鋼316L /PTFE
鋼纜/棒直徑：Φ4mm、Φ6mm/Φ10mm
過程溫度：-40…150℃
過程壓力：-1.0…40bar
信號輸出：兩線制 4…20mA/HART

ZNTEKFX63
特  征：同軸式導波天線，獲得更小的盲區(qū)、更強的回波信號。
應  用：能適應小量程，多蒸汽，小介電常數(shù)介質(zhì)的測量。適應過程條件復雜的環(huán)境。
***量程：6M
測量精度：±10mm
過程連接：G1½A/G2A
探測組件材料：不銹鋼316L /PTFE
同軸外徑：Φ28mm
過程溫度：-40…150℃
過程壓力：-1.0…40bar

信號輸出：兩線制 4…20mA/HART

SFG-830  SFG-830G  CS164  CG_951  CG-935N  CG-935P  DA-3400  HM8030-6  HM8123 3GHz  HM8135  3GHz  UT2102C  UT2082B  UT2082C  UT2062B  UT2062C  

UT2042B  UT2042C  MSO6052A/54A  DSO6102A/04A